高溫合金GH4169電子束焊接裂紋缺陷的成因及控制
GH4169合金電子束焊接接頭的成形良好,無宏觀缺陷;焊縫為樹枝晶組織,基體是 Ni、Cr、Fe的固溶體,晶界上彌散分布著 Ni3Nb等強(qiáng)化相顆粒;接頭平均抗拉強(qiáng)度達(dá)到 743.7 MPa,但焊縫處的硬度超過維氏硬度 HV 300,熔合區(qū)晶界上低熔點(diǎn)化合物 Ni3Nb在此偏聚,在焊接應(yīng)力作用下易形成液化裂紋。在熔池中添加合金化元素 Mn,擴(kuò)散進(jìn)入熔合區(qū),形成高熔點(diǎn)化合物 Mn2Nb相,從而抑制了液化裂紋的產(chǎn)生,并使接頭的綜合性能得到改善